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DLI-400光合有效輻射、日光積分和光周期測量儀(僅陽光)

Apogee新的DLI-400測量儀設計用于測量400-700納米的光合有效輻射(PAR),是一種低成本的選擇,只在陽光和一些寬帶光源下準確。可以應用測量后的修正系數來提高光源下的準確性;除了測量PAR,DLI-400測量儀還可以計算每日光積分(DLI)和光周期。

  • 產地: 美國
  • 型號: DLI-400
  • 名稱: 光合有效輻射、日光積分和光周期測量儀(僅陽光)

用途:Apogee新的DLI-400測量儀設計用于測量400-700納米的光合有效輻射(PAR),是一種低成本選擇,只在陽光和一些寬帶光源下準確。可以應用測量后的修正系數來提高光源下的準確性;除了測量PAR,DLI-400測量儀還可以計算每日光積分(DLI)和光周期,PPFD、DLI 和光周期數據可在屏幕上查看或通過 USB-C 電纜下載進行分析,可直接放在水平面上也可安裝到三腳架、夾具或木樁上。


DLI-400測量儀有兩種不同的屏幕模式:存儲數據和實時查看數據。在存儲數據屏幕中,它顯示DLI測量值、光照時間和采集數據的日期(最多99天以前)。實時查看數據屏幕顯示過去2.5秒內PPFD的運行平均值。

光測量儀

特點:

?經濟高效;                    

?堅固耐用,可在潮濕環境下使用,防護等級IP65;

?數據實時顯示。


技術參數:

光譜范圍(±5 nm)

370nm~650nm(僅陽光)

量程

0~4000 μmol/m2/s

視角

180°

校準誤差

±5%

重復性

<0.5%

非穩定性(長期漂移)

<2%/年

測量頻率

3min

非線性

<1%(≤4000μmol/m2/s)

響應時間

2.5s

方向響應

±5%(75°天頂角)

溫度響應

-0.04%/℃

數據記錄容量

99天(DLI 和光周期),10 天(30 分鐘 PPFD/ePPFD 平均值)

存儲數據分辨率(PPFD)

0.1μmol/m2s(≥1000時屏幕不顯示小數)

存儲數據分辨率 (DLI)

0.1 mol mˉ2 /天

存儲數據分辨率 (光周期)

0.1小時

連接性

USB--C 數據傳輸的 CSV 文件

ADC 分辨率

24位

工作環境

-10 至 60 ℃;0 至 100 % 相對濕度

防護等級

IP65

電池壽命

6個月

尺寸

1.91寬x 2.31高x 0.93深(英寸)

電池類型

兩節AAA

重量

67g